外径量规的校对和定位测量结构

摘要

本发明公开了一种外径量规的校对和定位测量结构，包括尺架，还包括定位测量结构和校对量杆校对结构；所述定位测量结构包括：指示表、指示表测砧、移动测砧和限位测砧；所述校对量杆校对结构包括：移动测砧校对柱、指示表测砧校对柱、校对量杆、移动测砧端校对限位弹簧套、指示表测砧端校对限位弹簧套。本发明适用于25mm以上量程的外径量规，测量力不超过3.5N、测砧为大测量面，能够满足外径千分尺GB/T1216‑2004的核心技术指标，更能够实现弱刚性、低表面硬度工件的快速便捷准确测量。

主权项

一种外径量规的校对和定位测量结构，包括尺架，其特征在于还包括定位测量结构和校对量杆校对结构；所述定位测量结构包括：指示表、指示表测砧、移动测砧和限位测砧；所述指示表安装在所述尺架上，所述指示表测砧与所述指示表连接；所述移动测砧安装于所述尺架上；所述限位测砧安装于所述尺架正中的径向导向槽内；所述校对量杆校对结构包括：移动测砧校对柱、指示表测砧校对柱、校对量杆、移动测砧端校对限位弹簧套、指示表测砧端校对限位弹簧套；所述校对量杆一端与所述移动测砧校对柱连接，所述校对量杆另一端与所述指示表测砧校对柱连接；所述校对量杆一端套接所述移动测砧端校对限位弹簧套，所述校对量杆另一端套接所述指示表测砧端校对限位弹簧套。