| 发明名称 | 一种芯片测试装置及系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片测试装置，包括：测试平台、多个测试座；其中，每一测试座上设有磁极，测试平台上设有与每一磁极对应设置的磁感应器用于输出电信号。本发明还公开了一种芯片测试系统。通过上述方式，本发明可根据输出电信号大小不同防止测试座安装到与测试公工位不对应的位置。 | ||
| 申请公布号 | CN106371040A | 申请公布日期 | 2017.02.01 |
| 申请号 | CN201610762681.4 | 申请日期 | 2016.08.30 |
| 申请人 | 南通富士通微电子股份有限公司 | 发明人 | 张健 |
| 分类号 | G01R33/06(2006.01)I | 主分类号 | G01R33/06(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人 | 何青瓦 |
| 主权项 | 一种芯片测试装置，其特征在于，包括：测试平台、多个测试座；其中，每一测试座上设有磁极，所述测试平台上设有与每一磁极对应设置的磁感应器用于输出电信号。 | ||
| 地址 | 226001 江苏省南通市崇川区崇川288号 | ||