发明名称 光学部品の解析方法
摘要 【課題】光軸が屈曲する場合であっても適切に光軸上の複屈折を算出できる、光学部品の解析方法を提供すること。【解決手段】まず、光学部品の形状の情報を含む計算モデルを準備する。次いで、計算モデルにおける、入射面、反射面および出射面を経由する光軸を設定する。次いで、計算モデルを複数の微小要素に分割する。次いで、複数の微小要素における複屈折をそれぞれ算出する。最後に、光軸上の微小要素における複屈折を積分してリタデーションを算出する。【選択図】図2
申请公布号 JP2017020905(A) 申请公布日期 2017.01.26
申请号 JP20150138913 申请日期 2015.07.10
申请人 株式会社エンプラス 发明人 坂本 泰之
分类号 G01M11/00;B29C45/76;G02B5/30 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人
主权项
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