发明名称 半導体装置
摘要 【課題】飽和電流が抑制された半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置100は、半導体層の表面から深部に向けて伸びるトレンチゲート部32を備えている。半導体層20は、トレンチゲート部32に囲まれる島領域40を有している。島領域40には、トレンチゲート部32の第1側面32aと、トレンチゲート部32の第2側面32bが接している。島領域40には、第1側面32aに接している第1コンタクト領域14aと、第2側面32bに接している第2コンタクト領域14bを含む第1導電型コンタクト領域14が設けられている。また、島領域40には、第1コンタクト領域14aと第2コンタクト領域14bの間でトレンチゲート部32に接している第2導電型コンタクト領域12が設けられている。【選択図】図2
申请公布号 JP2017017222(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20150133673 申请日期 2015.07.02
申请人 株式会社豊田中央研究所;トヨタ自動車株式会社 发明人 町田 悟;山下 侑佑;平林 康弘;妹尾 賢;添野 明高
分类号 H01L29/78;H01L29/739 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
地址