发明名称 半導体装置及びその製造方法
摘要 【課題】絶縁材料層にガラスクロスや不織布等の補強繊維を含まない、金属薄膜配線層のファイン化、金属ビアの小径化、及び層間厚の薄化を可能とする半導体装置及びその製造方法を提供する。【解決手段】半導体装置100は補強繊維を含まない絶縁材料114bによって封止された1つないし複数の半導体素子107a、107bと、複数の金属薄膜配線層102と、金属薄膜配線層102間、及び、半導体素子107a、107bの電極106と金属薄膜配線層102とを電気的に接続する金属ビア109と、を含む絶縁材料層101、108と、絶縁材料層101、108の一方の主面側に配置され、絶縁材料層101、108の反りを相殺して、半導体装置の反りを低減する反り調整層123と、を備える。【選択図】図1
申请公布号 JP2017017238(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20150134137 申请日期 2015.07.03
申请人 株式会社ジェイデバイス 发明人 石堂 仁則;玉川 道昭;岩崎 俊寛
分类号 H01L23/12;H01L25/04;H01L25/18 主分类号 H01L23/12
代理机构 代理人
主权项
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