发明名称 半導体装置の駆動方法
摘要 【課題】専有面積が小さく、高集積化、大記憶容量化が可能な半導体装置を提供する。【解決手段】バックゲート電極を有する読み出し用トランジスタと、書き込み用トランジスタと、を有する多値型メモリセルを用いる。情報の書き込みは、書き込み用トランジスタをオン状態とすることにより、書き込み用トランジスタのソース電極またはドレイン電極の一方と、読み出し用トランジスタのゲート電極が電気的に接続されたノードに、情報に応じた電位を供給し、その後、書き込み用トランジスタをオフ状態とすることにより、ノードに所定の電位を保持させる。情報の読み出しは、読み出し用トランジスタのソース電極またはドレイン電極の一方と接続された制御信号線に、読み出し制御電位を供給し、その後、読み出し信号線の電位変化を検出することで行う。【選択図】図1
申请公布号 JP2017016730(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20160199602 申请日期 2016.10.10
申请人 株式会社半導体エネルギー研究所 发明人 鎌田 康一郎
分类号 G11C11/56;G11C11/405;H01L21/8242;H01L27/108;H01L29/786 主分类号 G11C11/56
代理机构 代理人
主权项
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