发明名称 | 基于射频对消的相位噪声测量方法、装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于射频对消的相位噪声测量方法。该方法将与待测微波信号频率相同的参考微波信号分为两路;利用其中一路参考微波信号与待测微波信号进行对消处理,从而将相位噪声对载波的相位调制转化为抑制载波的幅度调制;然后将对消处理后的信号与另外一路参考微波信号进行相干解调;最后通过对相干解调后信号的低频分量进行频谱分析得到待测微波信号的相位噪声。本发明还公开了一种基于射频对消的相位噪声测量装置。相比现有技术,本发明的测量灵敏度更高,校准过程更简便。 | ||
申请公布号 | CN106338658A | 申请公布日期 | 2017.01.18 |
申请号 | CN201610723141.5 | 申请日期 | 2016.08.25 |
申请人 | 南京航空航天大学 | 发明人 | 张方正;史经展;潘时龙 |
分类号 | G01R29/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R29/26(2006.01)I |
代理机构 | 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 | 代理人 | 杨楠 |
主权项 | 基于射频对消的相位噪声测量方法,其特征在于,将与待测微波信号频率相同的参考微波信号分为两路;利用其中一路参考微波信号与待测微波信号进行对消处理,从而将相位噪声对载波的相位调制转化为抑制载波的幅度调制;然后将对消处理后的信号与另外一路参考微波信号进行相干解调;最后通过对相干解调后信号的低频分量进行频谱分析得到待测微波信号的相位噪声。 | ||
地址 | 210016 江苏省南京市白下区御道街29号 |