发明名称 一种LED电源性能分析装置及方法
摘要 本发明涉及一种LED电源性能分析装置,包括无线模块、串口模块、MCU模块、继电器驱动模块、继电器模块阵列、SPI隔离模块、电能计量模块阵列、电能计量模块、测试电源插座、电源模块、电源插座和插座阵列;本LED电源性能分析装置可根据上位机的测试项目要求,自动设置待测电源的输入电压,温箱温度,湿度,以及做通断电实验,在线纪录各项输入参数包括功率,电压,电流,谐波,功率因数;可选项,还可在待测电源组,负载之间插入本LED电源性能分析装置,则可同时测电源输出电压,电流,纹波,峰值等。每一台该装置可同时并行测多个LED电源,互相隔离,互不干扰。
申请公布号 CN103852733B 申请公布日期 2017.01.18
申请号 CN201410052468.5 申请日期 2014.02.17
申请人 上海大学 发明人 栾新源;刘廷章
分类号 G01R31/40(2014.01)I;G01R31/01(2006.01)I 主分类号 G01R31/40(2014.01)I
代理机构 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人 何文欣
主权项 一种LED电源性能分析装置,包括无线模块(2)、串口模块(3)、MCU模块(4)、继电器驱动模块(5)、继电器模块阵列(6)、SPI隔离模块(7)、电能计量模块阵列 (8)、电能计量模块 (9)、测试电源插座 (10)、电源模块(11)、电源插座 (12)和插座阵列 (13),其特征在于:所述无线模块(2)、串口模块(3)、继电器驱动模块(5)、SPI隔离模块(7)都和MCU模块(4)连接;所述串口模块(3)分别和数字可控电源(14)、数字可控温箱(15)连接;所述继电器驱动模块(5)和继电器模块阵列(6)连接;所述数字可控电源(14)和测试电源插座(10)连接;所述测试电源插座(10)和继电器模块阵列(6)连接;所述SPI隔离模块(7)和电能计量模块阵列(8)相连后与电能计量模块 (9)连接;所述的SPI隔离模块(7)经电源模块(11)连接电源插座(12);所述电能计量模块阵列(8)和插座阵列(13)连接;所述电源模块(11)给无线模块(2)、串口模块(3)、MCU模块(4)、继电器驱动模块(5)、继电器模块阵列(6)和SPI隔离模块(7)供电;所述串口模块(3)至少包含一RS232串口(31)和一RS485串口(32);所述RS232串口(31)连接数字可控电源(14),RS485串口(32)连接数字可控温箱(15),数字可控温箱(15)内安置待测电源组(16)。
地址 200444 上海市宝山区上大路99号