发明名称 METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND RECORDING MEDIUM
摘要 반도체 장치의 특성의 변동를 억제한다. 복수의 배선용 홈을 갖는 제1 절연막 위에 금속 배선으로서의 금속막이 형성된 기판에 대하여 연마하는 연마 공정과, 연마 공정 후, 기판에 제2 절연막을 형성하는 공정과, 제2 절연막을 연마하는 공정과, 연마 공정 후에 제2 절연막의 기판 면 내의 막 두께 분포 데이터를 수신하는 공정과, 막 두께 분포 데이터를 기초로, 연마 후의 제2 절연막 위에 형성하는 제3 절연막의 막 두께 분포를 조정함으로써 상기 연마 후의 제2 절연막과 상기 제3 절연막으로 형성되는 적층 절연막의 막 두께 분포를 보정하는 처리 데이터를 연산하는 공정과, 처리 데이터를 기초로, 기판의 중심측에 생성되는 처리 가스의 활성종의 농도와, 기판의 외주측에 생성되는 처리 가스의 활성종의 농도를 상이하게 하도록 처리 가스를 활성화시켜서 제3 절연막을 형성하여 적층 절연막의 막 두께 분포를 보정하는 공정을 포함한다.
申请公布号 KR20170005743(A) 申请公布日期 2017.01.16
申请号 KR20150135876 申请日期 2015.09.24
申请人 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 发明人 오하시, 나오후미;나카야마, 마사노리;스다, 아츠히코;도요다, 가즈유키;마츠이, ?
分类号 H01L21/205;H01L21/02;H01L21/28;H01L21/3205 主分类号 H01L21/205
代理机构 代理人
主权项
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