| 摘要 |
Le domaine de la présente invention concerne celui de la détection de défaillances d'un appareil électronique (900). Elle concerne particulièrement, mais pas exclusivement, le domaine de la détection de défaillance d'au moins une défaillance d'une variable observée d'un appareil (900). Plus précisément, la présente invention concerne un dispositif et un procédé de détection de défaillance d'au moins une défaillance d'une variable observée d'un appareil électronique (900) surveillé permettant la surveillance de l'appareil surveillé, le diagnostic d'une défaillance existante et/ou le pronostic d'une défaillance naissante de l'appareil observé et une réaction à la détection de défaillance de la défaillance existante et/ou naissante. |
