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单接收机太赫兹矢量场形测量装置测量太赫兹矢量场形的方法，其中，单接收机太赫兹矢量场形测量装置包括发射频综(1)和本振频综(2)，其特征是：本单接收机太赫兹矢量场形测量装置还包括测试通道和参考通道，在测试通道中，所述的发射频综(1)通过定向耦合器(3)依次连接有倍频放大模块(4)、待测辐射源(5)以及能接收射频信号并混频的接收机(6)，在参考通道中，发射频综(1)和本振频综(2)均通过定向耦合器(3)的输出端口与微波混频器(7)连接，所述的微波混频器(7)的中频输出端口及接收机(6)均与采集卡(8)连接；所述的定向耦合器(3)包括有第一定向耦合器(31)和第二定向耦合器(32)，所述的第一定向耦合器(31)和第二定向耦合器(32)均包括有两个输出端口，且这两个端口分别连通测试通道以及参考通道，单接收机太赫兹矢量场形测量方法包括以下步骤：步骤一、所述的发射频综(1)与第一定向耦合器(31)连接，所述的本振频综(2)与第二定向耦合器(32)连接，将第一定向耦合器(31)和第二定向耦合器(32)的两个输出端口分别连接测试通道和参考通道，发射频综(1)发出的微波信号频率记为f<sub>RF</sub>，本振频综(2)发出的微波信号频率记为f<sub>LO</sub>；步骤二、在测量通道中，发射频综(1)输出的微波信号经倍频放大后，生成太赫兹射频信号，经接收机(6)接收并混频后，生成测试中频信号，其频率为f<sub>TEST</sub>＝m(f<sub>RF</sub>‑f<sub>LO</sub>)，其中m为测试通道的总倍频次数；步骤三、在参考通道中，发射频综和本振频综输出的信号送入微波混频器(7)中，生成参考中频信号，其频率为f<sub>IF</sub>＝f<sub>RF</sub>‑f<sub>LO</sub>；步骤四、将测试中频信号和参考中频信号送入采集卡(8)中，所述的采集卡(8)对二者进行A/D采样，得到测试通道的时域数字信号x<sub>T</sub>(t)以及参考通道的时域数字信号x<sub>R</sub>(t)；步骤五、对测试通道的时域数字信号及参考通道的时域数字信号进行软件数字信号处理，得到测试通道的幅度和相位。 |
