发明名称 |
测试系统及测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种测试系统,包含一光箱、多个光板及一承载底部。光板分别设置在光箱中,光板各自位于该光箱中的不同深度。承载底部用以固定承载一待测镜头模块,并使待测镜头模块面对光箱以及光板,待测镜头模块与光板各自的一间隔距离都不相同。其中,当待测镜头模块拍摄第一影像画面时,第一影像画面包含光板的影像。本发明可通过包含多重景深的单一光箱内,撷取一张画面即可取得多种不同深度信息,并可利用此些深度信息以检测待测像机模块,并可应用此些深度信息以对待测像机模块进行校正。 |
申请公布号 |
CN106324976A |
申请公布日期 |
2017.01.11 |
申请号 |
CN201510386898.5 |
申请日期 |
2015.07.03 |
申请人 |
群光电子股份有限公司 |
发明人 |
蔡逸杰 |
分类号 |
G03B43/00(2006.01)I |
主分类号 |
G03B43/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 |
代理人 |
孟阿妮;郭栋梁 |
主权项 |
一种测试系统,其特征在于,包含:一光箱;多个光板,分别设置在该光箱中,该些光板各自位于该光箱中的不同深度;以及一承载底部,用以固定承载一待测镜头模块,并使该待测镜头模块面对该光箱以及该些光板,该待测镜头模块与该些光板各自的一间隔距离都不相同;其中,当该待测镜头模块拍摄一第一影像画面时,该第一影像画面同时包含该些光板的影像。 |
地址 |
中国台湾新北市五股区五工六路25号 |