发明名称 Fin-Feldeffekttransistor-Vorrichtungsstruktur (FinFET-Vorrichtungsstruktur) und Verfahren zu ihrer Herstellung
摘要 Eine FinFET-Vorrichtungsstruktur und ein Verfahren zum Ausbilden von dieser sind bereitgestellt. Die Fin-Feldeffekttransistor-Vorrichtungsstruktur (FinFET-Vorrichtungsstruktur) umfasst eine über einem Substrat ausgebildete Finnenstruktur und eine Gatestruktur, die die Finnenstruktur quert. Die Gatestruktur umfasst eine Gateelektrodenschicht, die einen oberen Abschnitt über der Finnenstruktur und einen unteren Abschnitt unter der Finnenstruktur umfasst. Der obere Abschnitt weist eine obere Fläche mit einer ersten Breite auf, der untere Abschnitt weist eine untere Fläche mit einer zweiten Breite auf, und die erste Breite ist größer als die zweite Breite.
申请公布号 DE102016100033(A1) 申请公布日期 2017.01.05
申请号 DE201610100033 申请日期 2016.01.04
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. 发明人 Chen, Chang-Yin;Chang, Chai-Wei;Liao, Chia-Yang;Young, Bo-Feng
分类号 H01L27/088;H01L21/283;H01L21/336;H01L21/8234;H01L29/78 主分类号 H01L27/088
代理机构 代理人
主权项
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