发明名称 一种反射式离轴数字全息显微测量装置
摘要 本发明公开了一种反射式离轴数字全息显微测量装置,包括:光源单元,物光调节单元,参考光调节单元以及图像处理单元,参考光调节单元包括光程调节反射镜组和光路引导反射镜组,光程调节反射镜组包括位置相对固定的第一反射镜和第二反射镜,第一反射镜用于将参考光R反射至第二反射镜,第二反射镜用于将入射的参考光R反射至光路引导反射镜组,通过整体移动光程调节反射镜组能调整参考光R的光程,光路引导反射镜组能引导调整光程后的参考光R入射至图像处理单元以与反射光O‵发生干涉;图像处理单元用于处理干涉条纹以获得样品三维图像。本发明装置能提高全息图像的质量。
申请公布号 CN106292238A 申请公布日期 2017.01.04
申请号 CN201510259000.8 申请日期 2015.05.20
申请人 华中科技大学 发明人 史铁林;洪源;廖广兰;张贻春;王肖;陈科鹏;文弛;王文东;王金云
分类号 G03H1/04(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G03H1/04(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 曹葆青
主权项 一种反射式离轴数字全息显微测量装置,其特征在于,包括:光源单元,用于提供物光O和参考光R;物光调节单元,用于将物光O引导入射至样品,并将自样品出射的反射物光O‵引导入射至图像处理单元;参考光调节单元,包括光程调节反射镜组(8,9)和光路引导反射镜组,所述光程调节反射镜组包括第一反射镜(8)和第二反射镜(9),所述第一反射镜(8)用于将参考光R反射至第二反射镜(9),所述第二反射镜(9)用于将入射的参考光R反射至光路引导反射镜组,通过整体移动光程调节反射镜组能调整参考光R的光程,所述光路引导反射镜组能引导调整光程后的参考光R入射至图像处理单元以与反射光O‵发生干涉;图像处理单元,用于接受参考光R与反射物光O‵发生干涉而获得的干涉条纹,并用于对该干涉条纹进行处理从而获得样品三维图像。
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号