一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法

摘要

本发明的实施方式提供了一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置及方法，该装置包括：一模式切换电路；模式切换电路的输入端连接第一端口和第二端口，输出端连接芯片的模式控制电路；其中，第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；第二端口为扫描输入端口SCAN_IN或扫描使能端口SCAN_EN；模式切换电路根据第一端口输出的第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据第二端口输出的第二信号序列生成一模式控制信号并传输给模式控制电路，以使模式控制电路根据模式控制信号控制芯片切换至一待切换模式。本发明可以低成本地实现在扫描链测试中动态地调整芯片的模式，达到降低功耗和加大驱动能力的目的。

主权项

一种用于扫描链测试中调整芯片模式的装置，其特征在于，包括：一模式切换电路；所述模式切换电路的输入端连接第一端口和第二端口，输出端连接芯片的模式控制电路；其中，所述第一端口为扫描时钟端口SCAN_CLK；所述第二端口为扫描输入端口SCAN_IN或扫描使能端口SCAN_EN；所述模式切换电路根据所述第一端口输出的第一信号序列确定是否进行模式切换，当确定进行模式切换时，根据所述第二端口输出的第二信号序列生成一模式控制信号并传输给所述模式控制电路，以使所述模式控制电路根据所述模式控制信号控制所述芯片切换至一待切换模式。