发明名称 一种铂金通道的耐用性的检测方法
摘要 本发明公开了一种铂金通道的耐用性的检测方法,所述检测方法包括:取得作为待测铂金通道的组成部分的铂金试样(1‑1);将铂金试样(1‑1)采用检测设备在玻璃液(5)中进行高温氧化处理,使部分所述铂金试样(1‑1)氧化,并使氧化生成的物料与高温氧化处理后的铂金试样分离,得到重量为m<sub>1</sub>的高温氧化处理铂金;采用公式I计算铂金高温氧化速度<img file="DDA0001075067750000011.GIF" wi="139" he="75" />式I为:<img file="DDA0001075067750000012.GIF" wi="614" he="74" />所述铂金高温氧化速度越慢,则表示所述铂金通道的耐用性越好。本公开的检测方法能够检测铂金通道的耐用性。
申请公布号 CN106290044A 申请公布日期 2017.01.04
申请号 CN201610654391.8 申请日期 2016.08.10
申请人 东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司 发明人 安利营;郑权;王丽红;闫冬成;李俊锋;张广涛
分类号 G01N5/00(2006.01)I;G01N33/20(2006.01)I 主分类号 G01N5/00(2006.01)I
代理机构 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人 耿超;王浩然
主权项 一种铂金通道的耐用性的检测方法,所述检测方法包括:取得作为待测铂金通道的组成部分的铂金试样(1‑1);其中,所述铂金试样(1‑1)的重量为m<sub>0</sub>,表面积为S;将铂金试样(1‑1)采用检测设备在玻璃液(5)中进行高温氧化处理,使部分所述铂金试样(1‑1)氧化,并使氧化生成的物料与高温氧化处理后的铂金试样(1‑1)分离,得到重量为m<sub>1</sub>的高温氧化处理铂金;采用公式I计算铂金高温氧化速度<img file="FDA0001075067720000011.GIF" wi="138" he="70" />式I为:<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>A</mi><mrow><mi>T</mi><mo>-</mo><msub><mi>T</mi><mn>0</mn></msub></mrow></msub><mo>=</mo><mrow><mo>(</mo><msub><mi>m</mi><mn>0</mn></msub><mo>-</mo><msub><mi>m</mi><mn>1</mn></msub><mo>)</mo></mrow><mo>/</mo><mrow><mo>(</mo><mi>t</mi><mo>&times;</mo><mi>S</mi><mo>)</mo></mrow><mo>;</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0001075067720000012.GIF" wi="613" he="78" /></maths>其中,T为所述铂金试样(1‑1)的高温氧化处理温度,T<sub>0</sub>为所述玻璃液(5)的高温氧化处理温度,所述铂金试样(1‑1)的高温氧化处理温度T不低于所述玻璃液(5)的高温氧化处理温度T<sub>0</sub>,所述t为所述高温氧化处理的时间;所述铂金高温氧化速度越慢,则表示所述铂金通道的耐用性越好。
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