发明名称 |
X射线数据处理装置及其方法以及程序 |
摘要 |
本发明涉及X射线数据处理装置及其方法以及程序。提供一种不使用比较器等就能补正由像素阵列型的X射线检测器检测出的且受到电荷共享的影响的X射线强度的X射线数据处理装置。X射线数据处理装置根据由光子计数方式的像素阵列型的X射线检测器检测出的X射线的计数值来推定真值,其具备:管理部(210),其接收并管理每个检测部分的检测值;有效面积率算出部(230),其使用与检测部分相关的数据、和与射线源以及检测能量的阈值相关的数据来算出检测部分的受到电荷共享的影响的检测能力相对于原本的检测能力的比例,作为检测部分的有效面积率;和补正部(250),其以算出的有效面积率来补正被管理的计数值,从而推定真值。 |
申请公布号 |
CN106290433A |
申请公布日期 |
2017.01.04 |
申请号 |
CN201610459652.0 |
申请日期 |
2016.06.22 |
申请人 |
株式会社理学 |
发明人 |
松下一之;作村拓人;中江保一 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I;G01T1/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
高颖 |
主权项 |
一种X射线数据处理装置,根据由光子计数方式的像素阵列型的X射线检测器检测出的X射线的计数值来推定真值,其特征在于,具备:管理部,其接收并管理每个检测部分的计数值;有效面积率算出部,其使用与所述检测部分相关的数据、和与射线源以及检测能量的阈值相关的数据来算出所述检测部分的受到电荷共享的影响的检测能力相对于原本的检测能力的比例,作为所述检测部分的有效面积率;和补正部,其以算出的所述有效面积率来补正被管理的所述计数值,从而推定真值。 |
地址 |
日本国东京都 |