发明名称 IMPROVED ETCHING PROCESS
摘要 방법은 반도체 기판을 제공하는 단계; 반도체 기판 상에 도핑 산화물층을 형성하는 단계; 도핑 산화물층 상에 패터닝층을 형성하는 단계로서, 패터닝층은 도핑 산화물층의 노출 영역들을 남겨두는 것인, 패터닝층 형성 단계; 반도체 기판에 대해 스퍼터링 공정을 수행하는 단계; 및 스퍼터링 공정 이후, 반도체 기판에 대해 습식 에칭 공정을 수행하여 노출 영역들로부터 도핑 산화물층을 제거하는 단계를 포함한다.
申请公布号 KR101692119(B1) 申请公布日期 2017.01.02
申请号 KR20140182401 申请日期 2014.12.17
申请人 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 发明人 예 밍시;린 이안;옌 비밍;천 차오청;장 순밍
分类号 H01L21/3063;H01L21/027;H01L21/203;H01L21/306;H01L21/3115;H01L21/316 主分类号 H01L21/3063
代理机构 代理人
主权项
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