TEST SOCKET

摘要

본 발명은 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 커버의 이동에 따른 힘이 래치 시스템에 용이하게 전달되어 힘 낭비가 감소하는 반도체 칩 테스트 소켓에 관한 것이다.