发明名称 | 带缺陷的测试构件用于分析工程构件的方法、系统和装置 | ||
摘要 | 本发明涉及用于产出构件的分析的具有设计缺陷的工程构件的制造。公开了具有设计缺陷的工程构件(60,100)和具有设计缺陷的工程构件(60,100)用来评估产出构件的使用。制造具有已知缺陷的测试构件(70,300)。该已知缺陷是被故意地包括在测试构件(70,300)中的瑕疵。然后分析测试构件,以获得缺陷的测试轮廓(40)。另外,分析待测试的工程构件(60,100),以获得产出轮廓(40)。将该产出轮廓(40)与测试轮廓(40)比较,以确定工程构件(60,100)是否具有与已知缺陷对应的缺陷。 | ||
申请公布号 | CN102809497B | 申请公布日期 | 2016.11.30 |
申请号 | CN201210180339.5 | 申请日期 | 2012.06.04 |
申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | C.W.罗斯;J.B.小迪顿 |
分类号 | G01N1/28(2006.01)I;G01N33/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N1/28(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 肖日松;杨楷 |
主权项 | 一种用于分析工程构件(60,100)的方法,包括:分析所述工程构件(60,100),以获得产出轮廓;制造具有已知缺陷的测试构件(70,300),所述已知缺陷是被故意地包括在所述测试构件(70,300)中的瑕疵;分析所述测试构件(70,300),以获得所述缺陷的测试轮廓;以及将所述产出轮廓与所述测试轮廓比较,以确定所述工程构件(60,100)是否具有与所述已知缺陷对应的缺陷。 | ||
地址 | 美国纽约州 |