发明名称 传样装置及具有该装置的超高真空测量系统
摘要 本实用新型公开一种传样装置及具有该装置的超高真空测量系统,传样装置包括绝缘座、支架、样品托、送样杆以及磁耦合阀;绝缘座设于靶室内且开设有第一通孔;支架设于绝缘座内且具有向上伸出绝缘座的定位端,支架开设有贯通定位端的第二通孔,第二通孔与第一通孔对齐而形成一导孔;样品托用于可拆卸地放置至少一个样品,样品托上部的材质为顺磁性材料,其内部开设有开口于底面的定位槽;送样杆可升降地穿设于导孔,其顶端可调节地定位于定位槽,而使送样杆升降时带动样品托升降;磁耦合阀设于预抽室的顶盖的上方。本实用新型采用非机械配合的结构实现换样,各个结构的衔接处自然简单,免去了现有机械配合传样的复杂操作。
申请公布号 CN205749541U 申请公布日期 2016.11.30
申请号 CN201620514351.9 申请日期 2016.05.31
申请人 中国科学院高能物理研究所 发明人 况鹏;曹兴忠;张鹏;王宝义;靳硕学;卢二阳;于润升;魏龙
分类号 G01N35/04(2006.01)I;G01N35/10(2006.01)I 主分类号 G01N35/04(2006.01)I
代理机构 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人 阚梓瑄;乔彬
主权项 一种传样装置(100),设于超高真空测量系统,所述超高真空测量系统包括靶室(300)以及设于所述靶室(300)上方的预抽室(200),其特征在于,所述传样装置(100)包括:绝缘座(110),设于所述靶室(300)内且开设有第一通孔(111);支架(120),设于所述绝缘座(110)内且具有向上伸出所述绝缘座(110)的定位端(121),所述支架(120)开设有贯通所述定位端(121)的第二通孔(122),所述第二通孔(122)与所述第一通孔(111)对齐而形成一导孔;样品托(130),用于可拆卸地放置至少一个样品,所述样品托(130)上部的材质为顺磁性材料,其内部开设有开口于底面的定位槽(131);送样杆(140),可升降地穿设于所述导孔,其顶端可调节地定位于所述定位槽(131),而使所述送样杆(140)升降时带动所述样品托(130)升降;以及磁耦合阀(150),设于所述预抽室(200)的顶盖(210)的上方;其中,所述磁耦合阀(150)开启,且所述送样杆(140)带动所述样品托(130)上升至所述预抽室(200)顶部时,所述样品托(130)磁吸定位于所述预抽室(200)的顶盖(210)的下表面,且对应于所述磁耦合阀(150)的位置;所述送样杆(140)带动所述样品托(130)下降至所述支架(120)时,所述样品托(130)承载于支架(120)的定位端(121)上。
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