发明名称 |
用于测定中空装置的内轮廓的设备和方法 |
摘要 |
本发明提供了一种用于测定被测装置的内轮廓的设备,在一个实施例中该设备包括:壳体,该壳体具有第一轴线;测量装置,该测量装置构造成沿偏离第一轴线的第二轴线发射光束;偏转装置,该偏转装置构造成将发射光束引导至被测装置的内表面;以及驱动器,该驱动器构造成使测量装置围绕第一轴线旋转。 |
申请公布号 |
CN104145072B |
申请公布日期 |
2016.11.30 |
申请号 |
CN201380012103.3 |
申请日期 |
2013.02.27 |
申请人 |
贝克休斯公司 |
发明人 |
F·约英;M·阿尔达格;G·米夏埃利斯;H·格里默尔 |
分类号 |
E21B4/02(2006.01)I;E21B47/007(2006.01)I |
主分类号 |
E21B4/02(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
秦振 |
主权项 |
一种用于测定部件的内轮廓的设备,该设备包括:壳体,该壳体具有位于壳体中心处的第一轴线;测量装置,该测量装置构造成沿着以距离“a”偏离所述第一轴线的第二轴线发射光束;偏转装置,该偏转装置沿着第二轴线定位并且能围绕第二轴线旋转,该偏转装置构造成将来自第二轴线的发射光束引导至所述部件的内表面并且将从所述部件的内表面反射的反射光束沿着第二轴线引导至测量装置,以测量所述部件的内轮廓;以及驱动器,该驱动器构造成使所述测量装置围绕所述第一轴线旋转。 |
地址 |
美国得克萨斯 |