发明名称 一种测试触摸屏银浆抗银迁移能力的实验方法
摘要 本发明公开了一种测试触摸屏银浆抗银迁移能力的实验方法。本方法采用的电路通过丝网印刷或激光蚀刻的方法制得;利用直流电压加到电极两端形成电容器,同时串联发光二极管作为线路保护负载;以高纯去离子水作为银离子化的介质,并使用移液枪使每次滴到样品上水滴体积保持一致;使用无纸记录仪记录银迁移过程中线路的电压变化。本发明利用多通道无纸记录仪,可以同步测试多组样品,数据处理方便、准确、快捷。本发明提供的实验装置及方法具有制作成本低、易于操作、实验成本低等优点。
申请公布号 CN106153708A 申请公布日期 2016.11.23
申请号 CN201510186168.0 申请日期 2015.04.17
申请人 北京中科纳通电子技术有限公司 发明人 刘旭;刘元哲;徐亮;解雅玲;陈振宇;刘兰兰
分类号 G01N27/49(2006.01)I 主分类号 G01N27/49(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种测试触摸屏银浆抗银迁移能力的实验方法,其特征在于,该测试方法中测试样片由丝网印刷或激光蚀刻两种方法中的一种制得,利用直流电压加到电极两端形成电容器,同时串联发光二极管作为线路保护负载;以高纯去离子水作为银离子化的介质,并使用移液枪使每次滴到样品上水滴体积保持一致;使用无纸记录仪记录银迁移过程中线路中的电压变化。
地址 101400 北京市怀柔区雁栖经济开发区雁栖南四街25号