| 发明名称 | 一种研磨钢化玻璃绝缘子进行X射线衍射分析的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种研磨钢化玻璃绝缘子进行X射线衍射分析的方法，包括下列步骤：S1、对待测钢化玻璃绝缘子样品分组编号；S2、对各组钢化玻璃绝缘子样品进行碎片化处理；S3、对各组碎片化的钢化玻璃绝缘子样品进行初步研碎处理；S4、对各组初步研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行深度研碎处理；S5、对各组深度研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行初步密度分层操作，筛选微粒；S6、在玛瑙研钵中研磨钢化玻璃绝缘子样品微粒；S7、对钢化玻璃绝缘子研磨产品进行精度检测。该方法采用初步研碎和二次研磨，有效提升了研磨后产品的精度，利于后续的X射线衍射分析仪分析其中的成分，更好地研究钢化玻璃绝缘子自爆的原因，同时，便于掌握和推广。 | ||
| 申请公布号 | CN106153653A | 申请公布日期 | 2016.11.23 |
| 申请号 | CN201610667908.7 | 申请日期 | 2016.08.15 |
| 申请人 | 华南理工大学 | 发明人 | 刘刚;李炀;杨宇航 |
| 分类号 | G01N23/20(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人 | 罗观祥 |
| 主权项 | 一种研磨钢化玻璃绝缘子进行X射线衍射分析的方法，其特征在于，所述方法包括下列步骤：S1、对待测钢化玻璃绝缘子样品分组编号；S2、对各组钢化玻璃绝缘子样品进行碎片化处理；S3、对各组碎片化的钢化玻璃绝缘子样品进行初步研碎处理；S4、对各组初步研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行深度研碎处理；S5、对各组深度研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行初步密度分层操作，筛选微粒；S6、在玛瑙研钵中研磨钢化玻璃绝缘子样品微粒；S7、对钢化玻璃绝缘子研磨产品进行精度检测。 | ||
| 地址 | 510640 广东省广州市天河区五山路381号 | ||