发明名称 线性设备列数值估计方法、电容检测方法、集成电路、触摸传感器系统以及电子设备
摘要 本文所揭示的电容检测方法实现了良好的检测精确度、良好的分辨率和高速操作,该方法(A)(a)基于代码序列(di(=di1,...,diN,其中i=1,...,M),这些代码序列彼此正交),针对(I)第一电容列(Ci1)和(II)第二电容列(Ci2)中的每一个,驱动并行的驱动线路(DL1,...,DLM),该第一电容列位于这些驱动线路与第一传感线路(SL1)之间,该第二电容列位于这些驱动线路与第二传感线路(SL2)之间,并且(b)从上述列(Ci1)中输出sFirst=(s11,...,s1N)并且从上述列(Ci2)中输出sSecond=(s21,...,s2N),以及(B)基于上述输出(sFirst)与代码序列(di)的内积操作来估计上述列(Ci1)中的第一电容数值,并且(b)基于上述输出(sSecond)与代码序列(di)的内积操作来估计上述列(Ci2)中的第二电容数值。
申请公布号 CN103201715B 申请公布日期 2016.11.23
申请号 CN201180053782.X 申请日期 2011.06.29
申请人 夏普株式会社 发明人 宫本雅之
分类号 G06F3/044(2006.01)I;G01B7/00(2006.01)I;G06F3/041(2006.01)I 主分类号 G06F3/044(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 李玲
主权项 一种线性设备列数值估计方法,包括如下步骤:(A)(a)基于M个代码序列di(=di1,di2,...,diN,其中i=1,...,M并且其中M<N),针对(I)第一线性设备列C1i(i=1,...,M)和(II)第二线性设备列C2i(i=1,...,M)中的每一个来驱动并行的M个驱动线路,这些代码序列中的每一个都具有长度N,该第一线性设备列形成于这M个驱动线路和第一传感线路之间,该第二线性设备列形成于这M个驱动线路和第二传感线路之间,并且由此(b)从该第一线性设备列中输出N个输出sFirst=(s11,s12,...,s1N)并且从该第二线性设备列中输出N个输出sSecond=(s21,s22,...,s2N);以及(B)(a)基于所述输出sFirst与代码序列di的第一内积操作,估计该第一线性设备列中的第一线性设备数值,该第一线性设备数值对应于第k1个驱动线路,并且(b)基于所述输出sSecond与代码序列di的第二内积操作,估计该第二线性设备列中的第二线性设备数值,该第二线性设备数值对应于第k2个驱动线路。
地址 日本大阪府