发明名称 |
勾画组织损伤的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种用于估算生物组织中的半暗带的半暗带尺寸的度量,其中分别通过灌注加权成像(PWI)和弥散加权成像(DWI)分析获得的第一和第二图像;且其中第一图像的分析包括水平集方法的应用,第二图像的分析包括灰度形态运算的应用。在本发明进一步的实施例中,连通组件标记算法可以应用在第一和第二图像中的任何一个上。本发明进一步涉及系统、计算机程序产品和相应方法的使用。 |
申请公布号 |
CN103339653B |
申请公布日期 |
2016.11.23 |
申请号 |
CN201180065488.0 |
申请日期 |
2011.12.16 |
申请人 |
奥胡斯大学;中日德兰大区 |
发明人 |
卡瑟班·那亘提拉亚;基姆·莫里德森;拉尔斯·李斯加德·里伯 |
分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 |
代理人 |
郑立;田嘉嘉 |
主权项 |
一种估算生物组织中半暗带的半暗带尺寸的度量的方法,所述方法包括以下步骤:—接收第一图像,所述第一图像包括表示空间分辨灌注参数的数据;—接收第二图像,所述第二图像包括表示空间分辨弥散参数的数据;—在所述第一图像上识别第一区域,所述第一区域对应于灌注损伤;—在所述第二图像上识别第二区域,所述第二区域对应于弥散损伤;—基于第一和第二区域估算半暗带尺寸的度量;其中所述方法进一步包括:—在所述第一图像上应用第一图像处理方法,所述第一图像处理方法包括水平集方法;—在所述第二图像上应用第二图像处理方法,所述第二图像处理方法包括灰度形态运算。 |
地址 |
丹麦奥胡斯 |