芯片测试夹具及芯片测试系统

摘要

本发明涉及一种芯片测试夹具，包括底座及微调结构；所述底座设有容纳结构；所述容纳结构用于放置校准件及芯片托板，且能够使所述校准件与所述芯片托板相接触；所述芯片托板表面用于焊接待测微波芯片；所述微调结构安装于所述底座上，且所述微调结构用于调节并固定所述校准件及芯片托板的位置。因此，该芯片测试夹具及芯片测试系统通过容纳结构及微调结构即可对校准件及芯片托板的位置进行调节并固定。那么在校准件与芯片托板上的待测微波芯片对准并使得校准件与芯片托板固定后，无需人手动操作即可使校准件与待测微波芯片之间保持固定的状态，从而可以避免人手动操作而发生颤抖的现象，进而提高了测试的精确度，也能避免对微波芯片造成损伤。

主权项

一种芯片测试夹具，其特征在于，所述芯片测试夹具包括底座及微调结构；所述底座设有容纳结构；所述容纳结构用于放置校准件及芯片托板，且能够使所述校准件与所述芯片托板相接触；所述芯片托板表面用于焊接待测微波芯片；所述微调结构安装于所述底座上，且所述微调结构用于调节并固定所述校准件及芯片托板的位置。