发明名称 | 可实现纳米级分辨率的空间电荷全光学测量方法 | ||
摘要 | 本发明涉及电学性能测量技术领域,尤其是一种可实现纳米级分辨率的空间电荷全光学测量方法,测量步骤为在具有电极的试样上加一个陡峭的高压脉冲,介质中的空间电荷受到脉冲电场力的作用会发生一定的位移,这可以在介质中激发出弹性波,该弹性波携带了空间电荷的分布信息,通过对其测量和分析,就可以得到空间电荷在介质中的分布状态。本发明利用超短电磁波激发和弹光取样技术,实现具有纳米级分辨率的空间电荷分布测量方法,对材料中存在的空间电荷进行更精细的测量。 | ||
申请公布号 | CN106093596A | 申请公布日期 | 2016.11.09 |
申请号 | CN201610387024.6 | 申请日期 | 2016.06.03 |
申请人 | 江苏宝源高新电工有限公司 | 发明人 | 解洪俊;王暄;周春云 |
分类号 | G01R29/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R29/00(2006.01)I |
代理机构 | 常州市夏成专利事务所(普通合伙) 32233 | 代理人 | 姜佩娟 |
主权项 | 一种可实现纳米级分辨率的空间电荷全光学测量方法,其特征在于,测量步骤为在具有电极的试样上加一个陡峭的高压脉冲,介质中的空间电荷受到脉冲电场力的作用会发生一定的位移,这可以在介质中激发出弹性波,该弹性波携带了空间电荷的分布信息,通过对其测量和分析,就可以得到空间电荷在介质中的分布状态。 | ||
地址 | 225800 江苏省扬州市宝应县宝胜路588号 |