发明名称 可实现纳米级分辨率的空间电荷全光学测量方法
摘要 本发明涉及电学性能测量技术领域,尤其是一种可实现纳米级分辨率的空间电荷全光学测量方法,测量步骤为在具有电极的试样上加一个陡峭的高压脉冲,介质中的空间电荷受到脉冲电场力的作用会发生一定的位移,这可以在介质中激发出弹性波,该弹性波携带了空间电荷的分布信息,通过对其测量和分析,就可以得到空间电荷在介质中的分布状态。本发明利用超短电磁波激发和弹光取样技术,实现具有纳米级分辨率的空间电荷分布测量方法,对材料中存在的空间电荷进行更精细的测量。
申请公布号 CN106093596A 申请公布日期 2016.11.09
申请号 CN201610387024.6 申请日期 2016.06.03
申请人 江苏宝源高新电工有限公司 发明人 解洪俊;王暄;周春云
分类号 G01R29/00(2006.01)I 主分类号 G01R29/00(2006.01)I
代理机构 常州市夏成专利事务所(普通合伙) 32233 代理人 姜佩娟
主权项 一种可实现纳米级分辨率的空间电荷全光学测量方法,其特征在于,测量步骤为在具有电极的试样上加一个陡峭的高压脉冲,介质中的空间电荷受到脉冲电场力的作用会发生一定的位移,这可以在介质中激发出弹性波,该弹性波携带了空间电荷的分布信息,通过对其测量和分析,就可以得到空间电荷在介质中的分布状态。
地址 225800 江苏省扬州市宝应县宝胜路588号