发明名称 SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND METHOD OF DETECTING ABNORMALITY OF SUBSTRATE
摘要 기판의 깨짐, 절결 등의 이상을 검출할 수 있는 검출부를 구비한 기판 처리 장치를 제공한다. 또한, 기판의 깨짐 등의 이상을 검출하는 방법을 제공한다. 기판을 연마하는 연마 유닛(3A~3D)과, 연마된 기판을 세정하는 세정 유닛(73, 74)과, 기판의 이상을 검출하는 기판 이상 검출부(40)와, 기판을, 연마 유닛(3A~3D), 기판 이상 검출부(40), 및 세정 유닛(73, 74)에 이 순서대로 반송하는 기판 반송 기구(6, 12, 77)를 구비하고, 기판 이상 검출부(40)는 기판을 촬상하는 촬상 수단(42)과, 촬상 수단(42)으로부터 얻어진 신호를 소정의 역치와 비교하여, 기판의 상태를 판단하는 출력 감시부(45)를 갖는다.
申请公布号 KR20160126883(A) 申请公布日期 2016.11.02
申请号 KR20160047524 申请日期 2016.04.19
申请人 EBARA CORPORATION 发明人 KOMATSU MITSUNORI;MARUYAMA TORU;ISONO YOSHINORI;YANAGI HIROAKI
分类号 H01L21/66;H01L21/02;H01L21/304;H01L21/306;H01L21/677 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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