发明名称 抗辐照太阳能电池制备方法
摘要 本发明公开了一种抗辐照太阳能电池制备方法,包括六个步骤:在单晶硅片表面形成SiO<sub>2</sub>层;在SiO<sub>2</sub>层上溅射钨掩蔽膜;在钨掩蔽膜上刻蚀钨掩蔽膜图形;对刻蚀完毕的钨掩蔽膜进行磷离子叠加注入;低温退火;高温扩散。本发明制备工艺简便、可靠性高、不影响太阳能电池充电。
申请公布号 CN106057932A 申请公布日期 2016.10.26
申请号 CN201610550758.1 申请日期 2016.07.14
申请人 江苏万邦微电子有限公司 发明人 窦延军;张林;张春秋
分类号 H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I;H01L31/0687(2012.01)I;H01L21/265(2006.01)I;H01L21/266(2006.01)I 主分类号 H01L31/0352(2006.01)I
代理机构 徐州市淮海专利事务所 32205 代理人 华德明
主权项 抗辐照太阳能电池制备方法,其特征是:包括以下步骤:步骤1:采用电阻率6‑8Ω.cm的P型单晶硅片,在表面热氧化形成一个20‑45nm厚度的SiO<sub>2</sub>层;步骤2:在SiO<sub>2</sub>层上溅射一层钨掩蔽膜;步骤3:通过光刻、刻蚀的方式形成钨掩蔽膜图形,使得该图形注入区线宽2‑3μm,掩蔽间隔宽3‑4μm;步骤4:对钨掩蔽膜进行磷离子叠加注入,次数为五次,每次注入的能量和剂量分别为0.4MeV,3×10<sup>14</sup>/cm<sup>2</sup>;0.7MeV,3×10<sup>13</sup>/cm<sup>2</sup>;1.2MeV,5×10<sup>13</sup>/cm<sup>2</sup>;3MeV,8×10<sup>13</sup>/cm<sup>2</sup>;6MeV,1×10<sup>14</sup>/cm<sup>2</sup>;步骤5:在保护氮气环境下对离子注入完毕的硅晶片进行低温退火,温度600℃,时间一小时;保护氮气流量为0.7L/min;步骤6:低温退火完毕,继续在氮气保护下,在1000℃的温度下扩磷13min。
地址 210024 江苏省南京市玄武区玄武大道699-1号
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