发明名称 Method for fabricating semiconductor devices
摘要 산화물을 포함하는 절연막이 형성된 기판을 챔버에 로딩하고, 챔버 내에 식각 소스를 포함하는 공정 가스를 주입하여 상기 절연막의 적어도 일부를 제거한다. 제거 공정은 식각 소스의 공급이 제 1 유량인 제 1 기간 및 상기 제 1 유량보다 적은 제 2 유량인 제 2 기간이 복수 회 반복되는 펄스 타입으로 진행되고, 제거 공정 동안 챔버 내의 온도는 100℃ 이상으로 유지된다.
申请公布号 KR20160123441(A) 申请公布日期 2016.10.26
申请号 KR20150053177 申请日期 2015.04.15
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 LEE, MONG SUP;SON, YOON HO;LEE, SANG JUN;KANG, MUN KWON;KIM, KYUNG HYUN;HWANG, IN SEAK
分类号 H01L21/311;H01L21/3063;H01L21/316;H01L21/324 主分类号 H01L21/311
代理机构 代理人
主权项
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