发明名称 基于GeSn材料的光电晶体管及其制作方法
摘要 本发明公开了一种基于GeSn材料的光电晶体管及其制作方法,解决现有III‑V族中红外光电探测器件难以硅基集成和IV族硅、锗探测器探测范围窄的问题。本发明晶体管的集电极区、光吸收区、基极区、发射极区均采用IV族GeSn合金。衬底、集电极区、光吸收区、基极区、发射极区依次竖直分布,保护层包裹在集电极区、光吸收区、基极区、发射极区外围。本发明采用标准CMOS工艺制备。本发明通过采用具有带隙、高光吸收系数的GeSn材料,有着比Ge探测器更广的中红外探测范围,具有高的光灵敏度和光电流。
申请公布号 CN106024922A 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201610117685.7 申请日期 2016.03.02
申请人 西安电子科技大学 发明人 韩根全;王轶博;张春福;汪银花;张进成;郝跃
分类号 H01L31/028(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/028(2006.01)I
代理机构 陕西电子工业专利中心 61205 代理人 田文英;王品华
主权项 一种基于GeSn材料的光电晶体管,包括:衬底(1)、集电极区(2)、光吸收区(3)、基极区(4)、发射极区(5)、保护层(6)以及金属电极(7);所述的集电极区(2)、光吸收区(3)、基极区(4)、发射极区(5)在衬底(1)上依次由下至上竖直分布,且保护层(6)环绕覆盖在集电极区(2)、光吸收区(3)、基极区(4)、发射极区(5)的四周;其特征在于:所述集电极区(2)、光吸收区(3)、基极区(4)和发射极区(5)均采用通式为Ge<sub>1‑x</sub>Sn<sub>x</sub>的IV族合金;其中,x表示GeSn中Sn的组份,Sn组份的取值范围为0<x<0.15。
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