发明名称 |
对在半导体芯片中的环境状况的检测 |
摘要 |
描述了一种可以能够可再生地测量极小电容及其变化的电容传感器和测量电路。该电容可以根据本地环境状况,比如机械应力(例如翘曲或剪应力)、机械压力、温度和/或湿度,而变化。可能所期望的是,提供集成到半导体芯片中的电容器,该电容器足够小且对精确测量预期半导体芯片所经历的状况敏感。 |
申请公布号 |
CN106024757A |
申请公布日期 |
2016.10.12 |
申请号 |
CN201610340367.7 |
申请日期 |
2013.03.15 |
申请人 |
英特尔移动通信有限责任公司 |
发明人 |
H-J.巴特;H.鲍迈斯特;P.鲍姆加特纳;P.里斯;J.威勒达克吕格 |
分类号 |
H01L23/544(2006.01)I;G01L1/14(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/544(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
徐红燕;刘春元 |
主权项 |
一种半导体芯片,包括:衬底;布置在衬底上的多个材料层;半导体芯片的有效区,在该有效区内,多个电路元件被布置在所述多个层中的至少一些层中;和电容器,布置在半导体芯片的禁用区且与所述多个电路元件中的至少一个电路元件电耦合。 |
地址 |
德国诺伊比贝格 |