发明名称 |
经图案化而具有静电放电保护的晶体管以及制造方法 |
摘要 |
本发明涉及经图案化而具有静电放电保护的晶体管以及制造方法,提供具有静电放电(ESD)保护的高电压半导体装置以及制造方法。该半导体装置包括位于衬底上的多个晶体管,其经图案化而具有横跨该衬底的部分的一个或多个共栅极,以及与该一个或多个共栅极关联的多个第一S/D接触及多个第二S/D接触。该第二S/D接触设于该衬底内的多个载流子掺杂区上方。一个或多个浮置节点设于该衬底上方且至少部分位于第二S/D接触之间,以促进在该衬底内定义该多个载流子掺杂区。例如,该载流子掺杂区可由具有共载流子区开口的掩膜定义,该一个或多个浮置节点与该共载流子区开口相交,并与该开口一起促进定义该多个独立的载流子掺杂区。 |
申请公布号 |
CN105990335A |
申请公布日期 |
2016.10.05 |
申请号 |
CN201610153089.4 |
申请日期 |
2016.03.17 |
申请人 |
格罗方德半导体公司 |
发明人 |
李建兴;路香香;M·普拉布;M·I·纳塔拉詹 |
分类号 |
H01L27/02(2006.01)I;H01L21/8232(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京戈程知识产权代理有限公司 11314 |
代理人 |
程伟;王锦阳 |
主权项 |
一种半导体装置,包括:多个晶体管,位于衬底上,该多个晶体管包括:至少一个共栅极;多个第一S/D接触,与该至少一个共栅极关联;多个第二S/D接触,与该至少一个共栅极关联并与该多个第一S/D接触的其中一个相应,该多个第二S/D接触设于该衬底内的多个载流子掺杂区上方,且该多个第二S/D接触、该相应的第一S/D接触以及该至少一个共栅极部分地定义该多个晶体管;以及至少一个浮置节点,至少部分设于该多个第二S/D接触的第二S/D接触之间,该至少一个浮置节点促进在该衬底内定义该多个载流子掺杂区。 |
地址 |
英属开曼群岛大开曼岛 |