发明名称 一种SRAM及其制造方法、电子装置
摘要 本发明提供一种SRAM及其制造方法、电子装置,所述SRAM包括至少一PG晶体管,其中所述PG晶体管的源区和漏区具有非对称结构,所述PG晶体管的制造方法包括:提供半导体衬底,在半导体衬底上形成有鳍片,在鳍片的两端形成有隔离结构;在鳍片的一端形成第一凹槽,并在第一凹槽中形成第一外延材料层;在鳍片的另一端形成第二凹槽,并在第二凹槽中形成第二外延材料层,所述第二外延材料层的厚度小于所述第一外延材料层的厚度;在鳍片的两侧及顶部形成栅极结构。在不改变PU、PD和PG的数量关系的前提下,可以有效提升所述SRAM的静态噪声容限和写容限。
申请公布号 CN105990241A 申请公布日期 2016.10.05
申请号 CN201510086556.1 申请日期 2015.02.17
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 张弓;洪中山
分类号 H01L21/8244(2006.01)I;H01L27/11(2006.01)I 主分类号 H01L21/8244(2006.01)I
代理机构 北京市磐华律师事务所 11336 代理人 董巍;高伟
主权项 一种SRAM的制造方法,所述SRAM包括至少一PG晶体管,其中所述PG晶体管的源区和漏区具有非对称结构,所述PG晶体管的制造方法包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有鳍片(201),在所述鳍片的两端形成有隔离结构(200);在所述鳍片的一端形成第一凹槽(204),并在所述第一凹槽中形成第一外延材料层(205);在所述鳍片的另一端形成第二凹槽(208),并在所述第二凹槽中形成第二外延材料层(209),所述第二外延材料层的厚度小于所述第一外延材料层的厚度;在所述鳍片的两侧及顶部形成栅极结构。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号