| 发明名称 | 填料表面的拓扑的测定 | ||
| 摘要 | 一种用于测定容器(308)中的填料表面(307)的拓扑的料位测量装置(301)包括：天线装置(305)、容纳装置(304)和控制单元(312)。控制单元(312)能够调节天线装置(305)的发射角(315)和天线装置(305)的相对于填充材料表面(307)的空间位置。控制单元(312)能够通过控制天线装置(305)的位置并通过控制天线装置(305)的发射和/或接收角来改变料位测量装置(301)的最终发射方向。 | ||
| 申请公布号 | CN105980817A | 申请公布日期 | 2016.09.28 |
| 申请号 | CN201480074905.1 | 申请日期 | 2014.02.11 |
| 申请人 | VEGA格里沙贝两合公司 | 发明人 | 罗兰·韦勒;莱温·迪特尔勒 |
| 分类号 | G01F23/284(2006.01)I;G01S13/88(2006.01)I | 主分类号 | G01F23/284(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人 | 曹正建;陈桂香 |
| 主权项 | 一种用于测定填料表面(307)的拓扑的料位测量装置(301)，其包括：天线装置(305)，其用于发射和/或接收电磁信号(306)；容纳装置(304)；控制单元(312)，其中，所述天线装置(305)被紧固在所述容纳装置(304)上，其中，所述天线装置(305)的多个发射角和/或接收角(315)能够被以电子的方式调节，其中，所述容纳装置(304)用于以机械的方式调节所述天线装置(305)的相对于所述填料表面(307)的位置，其中，在所述天线装置(305)的辅助下，所述控制单元(312)用于通过调节所述天线装置(305)的位置并通过以电子的方式调节所述天线装置(305)的发射角和/或接收角(315)来检测来自所述填料表面(307)的不同区域的多个回波信号。 | ||
| 地址 | 德国沃尔法赫 | ||