发明名称 劣化個所推定装置、劣化個所推定方法および移動体の診断システム
摘要 検査対象機器から収集した収集データの周波数分析を行い、強度の時間周波数分布を求める時間周波数分析部(102)と、強度の時間周波数分布と、予め蓄積した検査対象機器が正常動作している際の強度の時間周波数分布のパラメータとに基づいて、劣化度の時間周波数分布を推定する劣化度分布推定部(103)と、劣化度の時間周波数分布に基づいて、少なくとも検査対象機器の劣化個所を判定する劣化個所判定部(105)とを備える。
申请公布号 JP5996153(B1) 申请公布日期 2016.09.21
申请号 JP20160536258 申请日期 2015.12.09
申请人 三菱電機株式会社 发明人 阿部 芳春
分类号 G01H17/00;B66B5/02 主分类号 G01H17/00
代理机构 代理人
主权项
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