发明名称 |
用于质量分析的方法和设备 |
摘要 |
在此提供一种质量分析的方法和一种质谱仪,其中一个批次的离子积累在一个质量分析器中;使用镜像电流检测来检测该质量分析器中所积累的该批次离子以便提供一个检测到的信号;基于使用来自该质量分析器中所积累的一个先前批次的离子的镜像电流检测所获得的一个先前检测到的信号使用一种算法来控制该质量分析器中所积累的该批次离子中的离子数目;其中该算法的一个或多个参数是基于使用位于该质量分析器外部的一个独立检测器所获得的离子电流或电荷的一个测量值进行调整的。 |
申请公布号 |
CN103548111B |
申请公布日期 |
2016.08.31 |
申请号 |
CN201280024256.5 |
申请日期 |
2012.05.18 |
申请人 |
塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
发明人 |
J-P·哈奇尔德;O·兰格;U·弗勒利希;A·外格豪斯;A·霍洛弥夫;A·马卡洛夫 |
分类号 |
H01J49/42(2006.01)I;H01J49/38(2006.01)I |
主分类号 |
H01J49/42(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
姬利永 |
主权项 |
一种用于质量分析的方法,包括:在质量分析器中积累第一批次的离子;使用镜像电流检测来检测该质量分析器中所积累的该第一批次离子,以便提供第一检测到的信号;从第一检测到的信号确定第一批次离子的总电荷或总离子含量;以及在质量分析器中积累第二批次的离子;其中该方法包括基于从第一检测到的信号确定的总电荷或总离子含量,使用一种算法来控制该质量分析器中所积累的第二批次离子中的离子数目;并且其中该方法包括基于使用位于该质量分析器外部的独立检测器所获得的未被注入到质量分析器中的离子的离子电流或电荷的测量值来调整该算法的一个或多个参数。 |
地址 |
德国不来梅 |