发明名称 一种用于相控阵天线现场校准的装置
摘要 本发明属于微波近场测量领域,具体涉及一种用于相控阵天线现场校准的装置,包括光学探针阵列和信号处理系统;所述光学探针阵列通过固定机架架设在相控阵天线阵面上,阵列中的每个光学探针对应一个天线单元,并精确控制各个光学探针与天线单元之间的距离及其一致性,光学探针阵列通过保偏光纤与信号处理系统相连,天线阵面的激励由信号处理系统中的激励信号源经过定向耦合器的直通端提供。光学探针阵列不含金属器件,不会影响雷达天线的近场辐射场,保证了测量的真实性;同时探针与天线单元的距离靠的很近,使其不受电磁场在地面及物体反射等产生的多路径效应以及天线单元之间存在的耦合效应等干扰的影响,保障了测试的准确性。
申请公布号 CN105911531A 申请公布日期 2016.08.31
申请号 CN201610220715.7 申请日期 2016.04.08
申请人 中国电子科技集团公司第三十八研究所 发明人 张业斌;田晓光;王昌雷;武帅;张思敏;盛永鑫
分类号 G01S7/40(2006.01)I 主分类号 G01S7/40(2006.01)I
代理机构 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人 张景云
主权项 一种用于相控阵天线现场校准的装置,其特征在于:包括光学探针阵列和信号处理系统;所述光学探针阵列通过固定机架架设在相控阵天线阵面上,阵列中的每个光学探针对应一个天线单元,并精确控制各个光学探针与天线单元之间的距离及其一致性,光学探针阵列通过保偏光纤与信号处理系统相连。
地址 230000 安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号