发明名称 一种光学系统波前的子孔径反演方法
摘要 本发明一种光学系统波前的子孔径反演方法;测试若干子孔径波前,获取子孔径与全孔径空间位置关系;求解全孔径与各子孔径波前泽尼克系数的对应关系,建立子孔径与全孔径泽尼克系数的转换矩阵;提取子孔径波前泽尼克系数,通过矩阵除法求解得到全孔径的泽尼克系数;全孔径泽尼克系数反演得到准确的系统波前。本发明方法利用子孔径设备解决了全孔径测试的问题,能够极大的节约测试成本;需要子孔径数量少,测试效率较高。
申请公布号 CN104089583B 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201410286016.3 申请日期 2014.06.24
申请人 北京空间机电研究所 发明人 王昀;李凌;伏瑞敏;廖志波;王岩
分类号 G01B11/08(2006.01)I;G01J9/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/08(2006.01)I
代理机构 中国航天科技专利中心 11009 代理人 安丽
主权项 一种光学系统波前的子孔径反演方法,其特征在于步骤如下:1)将干涉仪(1)置于光学系统焦面位置,采用第一子孔径平面镜(4)自准直形成干涉光路;所述光学系统包括主镜(2)和次镜(3);2)利用干涉仪(1)获取光学系统对应子第一孔径平面镜(4)的波前误差,并测量获得第一子孔径平面镜(4)相对于主镜(2)的相对位置(R<sub>0</sub>”,A<sub>0</sub>”)以及第一孔径平面镜(4)与主镜(2)的半径比S<sub>1</sub>;3)将干涉仪(1)置于光学系统焦面位置,采用第二子孔径平面镜(5)自准直形成干涉光路;其中所述第二子孔径平面镜(5)的摆放位置与第一子孔径平面镜(4)不重叠;4)利用干涉仪(1)获取光学系统对应子第二孔径平面镜(5)的波前误差,并测量获得第二子孔径平面镜(5)相对于主镜(2)的相对位置(R<sub>0</sub>’,A<sub>0</sub>’)以及第二孔径平面镜(5)与主镜(2)的半径比S<sub>2</sub>;5)根据第一子孔径平面镜(4)、第二子孔径平面镜(5)与主镜(2)的相对位置,分别计算获得各子孔径与全孔径泽尼克系数的转换矩阵T<sub>1</sub>、T<sub>2</sub>,并组成转换矩阵<img file="FDA0000962358850000011.GIF" wi="202" he="150" />6)根据干涉仪(1)获取的光学系统对应第一子孔径平面镜(4)、第二子孔径平面镜(5)的波前误差,分别提取第一子孔径平面镜(4)、第二子孔径平面镜(5)的泽尼克系数Z<sub>1</sub>、Z<sub>2</sub>,并组成子孔径波前泽尼克系数矩阵<img file="FDA0000962358850000012.GIF" wi="227" he="150" />7)根据子孔径波前泽尼克系数矩阵Z’以及转换矩阵T,利用公式Z=Z′/T解算获得全孔径波前泽尼克系数Z;8)将全孔径泽尼克系数Z反演为全孔径波前。
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