发明名称 一种LTPS工艺
摘要 本发明的一种LTPS工艺,相对于传统工艺,包含以下步骤:根据晶体管类型在其源极或漏极掺杂P‑或B+;S7、熔炉热处理以激活掺杂的杂质;S8、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀<img file="DDA0000503929470000011.GIF" wi="262" he="78" />厚的氧化物的图案,用以形成栅极金属层等。有益效果在于,与背景技术中的LTPS工艺相比,降低成本的同时提高了生产性。省掉步骤“利用PECVD蒸镀厚度为<img file="DDA0000503929470000012.GIF" wi="152" he="75" />的防止阳极和金属布线短路的钝化绝缘膜,通过光刻蚀刻形成阳极接触的接触孔图案”。将蒸镀&gt;光刻&gt;蚀刻以及PR工序简化为掩膜板制作工序,能够缩短制作TFT阵列组的时间,减少生产成本。本发明不只适用MIC,也适用MILC或MICC等结晶化法不同的情况。
申请公布号 CN103972169B 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201410198188.5 申请日期 2014.05.12
申请人 四川虹视显示技术有限公司 发明人 郎丰伟;文东星
分类号 H01L21/77(2006.01)I 主分类号 H01L21/77(2006.01)I
代理机构 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人 周永宏
主权项 一种LTPS工艺,包括步骤:S1、在玻璃基板上以PECVD方式蒸镀阻止杂质渗透的厚为<img file="FDA0000941639500000011.GIF" wi="262" he="55" />的缓冲氧化层;S2、利用PECVD或LPCVD,蒸镀厚度为<img file="FDA0000941639500000012.GIF" wi="213" he="55" />的单晶硅来作为晶体管的源极和漏极;S3、采用ALD设备以原子单位蒸镀Ni或溅射数十<img file="FDA0000941639500000013.GIF" wi="38" he="55" />的Ni用以完成硅结晶化;S4、采用熔炉在600℃的条件下经过一小时硅结晶化形成多晶硅;S5、利用光刻蚀刻工序形成TFT的源极和漏极图案;其特征在于,还包括步骤:S6、根据晶体管类型在其源极或漏极掺杂P‑或B+;S7、熔炉热处理以激活掺杂的杂质;S8、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀<img file="FDA0000941639500000014.GIF" wi="251" he="62" />厚的氧化物的图案,用以形成栅极金属层;S9、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀厚度为<img file="FDA0000941639500000015.GIF" wi="259" he="53" />的金属图案,用以形成栅极金属层、扫描线和电容;S10、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀厚度为<img file="FDA0000941639500000016.GIF" wi="260" he="63" />氧化物图案,用以形成电容的电介质,并防止栅极金属层的短路;S11、选择能与硅粘接的金属,利用掩模板蒸镀形成电源线源极、漏极金属层和电容图案,蒸镀厚度为<img file="FDA0000941639500000017.GIF" wi="270" he="62" />S12、利用掩模板蒸镀厚为<img file="FDA0000941639500000018.GIF" wi="262" he="54" />的阳极电极;S13、通过光刻蚀刻利用丙烯酸的PR作为保护除发光区域以外的区域的保护层图案。
地址 611731 四川省成都市高新区(西区)科新西街168号