发明名称 |
投影机和投影机的控制方法 |
摘要 |
本发明提供一种投影机和投影机的控制方法。根据一个实施方式的投影机,具有:射出激发光的固体光源;将激发光变换为荧光的荧光体;对来自该荧光体的光进行调制的光调制装置;以及投射由该光调制装置调制后的光的投射光学系统,具有:检测装置,其检测经由荧光体的激发光以及由荧光体变换后的荧光的至少一方;以及控制装置,其根据基于检测装置的检测结果的荧光体的劣化状况控制固体光源以及光调制装置的至少一方;控制装置,在检测装置的检测结果在设定范围外的情况下或者在检测装置的检测结果在设定范围内且检测结果的变化率大于阈值的情况下,判断为荧光体的劣化,控制固体光源和光调制装置的至少一方。 |
申请公布号 |
CN105892207A |
申请公布日期 |
2016.08.24 |
申请号 |
CN201510515826.6 |
申请日期 |
2011.08.26 |
申请人 |
精工爱普生株式会社 |
发明人 |
津田昌秀;齐藤修;盐入贤一;柳濑繁广 |
分类号 |
G03B21/20(2006.01)I;H04N9/31(2006.01)I |
主分类号 |
G03B21/20(2006.01)I |
代理机构 |
北京市中咨律师事务所 11247 |
代理人 |
刘瑞东;段承恩 |
主权项 |
一种投影机,其特征在于,该投影机具有:射出激发光的固体光源;将所述激发光变换为荧光的荧光体;对来自该荧光体的光进行调制的光调制装置;以及投射由该光调制装置调制后的光的投射光学系统,具有:检测装置,其检测经由所述荧光体的所述激发光以及由所述荧光体变换后的所述荧光的至少一方;以及控制装置,其根据基于所述检测装置的检测结果的所述荧光体的劣化状况控制所述固体光源以及所述光调制装置的至少一方;所述控制装置,在所述检测装置的检测结果在设定范围外的情况下或者在所述检测装置的检测结果在设定范围内且所述检测结果的变化率大于阈值的情况下,判断为所述荧光体的劣化,控制所述固体光源和所述光调制装置的至少一方。 |
地址 |
日本东京都 |