发明名称 | 电容提取的方法和装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种方法,包括处理集成电路的布局,以确定集成电路的一个或多个部件的一种或多种属性。方法还包括从与制造集成电路相关联的工艺文件中提取一个或多个工艺参数。基于包括在工艺文件中的一个或多个逻辑函数,从工艺文件中提取一个或多个工艺参数。计算基于一种或多种属性。方法还包括:基于包括在工艺文件中的一个或多个工艺参数和电容确定规则,计算集成电路的至少两个部件之间的电容值。基于用户输入,可编辑一个或多个工艺参数、一个或多个逻辑函数和电容确定规则中的至少一个。本发明还提供了电容提取的方法和装置。 | ||
申请公布号 | CN105868437A | 申请公布日期 | 2016.08.17 |
申请号 | CN201510985005.9 | 申请日期 | 2015.12.24 |
申请人 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 发明人 | 周志政;吴宗翰;苏哿颖;李宪信;王中兴 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人 | 章社杲;李伟 |
主权项 | 一种方法,包括:处理集成电路的布局,以确定所述集成电路的一个或多个部件的一种或多种属性;从与制造所述集成电路相关联的工艺文件中提取一个或多个工艺参数,其中,基于一个或多个逻辑函数的计算,从所述工艺文件中提取所述一个或多个工艺参数,所述一个或多个逻辑函数中的至少一个包括在所述工艺文件中,并且所述计算基于所述一种或多种属性;以及基于包括在所述工艺文件中的一个或多个工艺参数和电容确定规则,计算所述集成电路的至少两个部件之间的电容值,其中,基于用户输入来编辑所述一个或多个工艺参数、所述一个或多个逻辑函数和所述电容确定规则中的至少一个。 | ||
地址 | 中国台湾新竹 |