发明名称 薄膜晶体管及其制造方法、显示装置、图像传感器、X射线传感器以及X射线数字摄影装置
摘要 一种薄膜晶体管及其制造方法、显示装置、图像传感器、X射线传感器以及X射线数字摄影装置,晶体管具有:栅极电极;与栅极电极相接触的栅极绝缘膜;氧化物半导体层,包含第1区域和第2区域,且经由栅极绝缘膜而与栅极电极对向配置,第1区域以In(a)Ga(b)Zn(c)O(d)(0<a≤37/60,3a/7‑3/14≤b≤91a/74‑17/40,b>0,0<c≤3/5,a+b+c=1,d>0)表示,第2区域以In(p)Ga(q)Zn(r)O(s)(q/(p+q)>0.250,p>0,q>0,r>O,s>0)表示,且与第1区域相比位于相对于栅极电极较远的位置;源极电极和漏极电极,经由氧化物半导体层可以导通。
申请公布号 CN103733345B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201280038731.4 申请日期 2012.07.09
申请人 富士胶片株式会社 发明人 小野雅司;高田真宏;田中淳;铃木真之
分类号 H01L29/786(2006.01)I;G02F1/1368(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/363(2006.01)I;H01L27/144(2006.01)I;H01L27/146(2006.01)I;H01L51/50(2006.01)I;H05B33/14(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人 臧建明
主权项 一种薄膜晶体管,包括:栅极电极;栅极绝缘膜,其与所述栅极电极相接触;氧化物半导体层,包括第1区域和第2区域,且经由所述栅极绝缘膜而与所述栅极电极对向配置,所述第1区域以In(a)Ga(b)Zn(c)O(d)表示,其中0<a≤37/60,3a/7‑3/14≤b≤91a/74‑17/40,其中b>0,0<c≤3/5,a+b+c=1,d>0,所述第2区域以In(p)Ga(q)Zn(r)O(s)表示,且与所述第1区域相比位于相对于所述栅极电极较远的位置,其中q/(p+q)>0.250,p>0,q>0,r>0,s>0;以及源极电极和漏极电极,彼此分离配置,且经由所述氧化物半导体层可以导通,其中所述薄膜晶体管的场效迁移率为20cm<sup>2</sup>/Vs以上。
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