发明名称 可更换绝缘膜的芯片测试架
摘要 本实用新型公开了一种可更换绝缘膜的芯片测试架,其特征在于,所述测试架包括两支呈角度的支架,所述支架结合处的上端部设置有夹持器,所述夹持器包括夹持底座,所述夹持底座上端部设置有对称排列的若干检测头,所述检测头外层设置有绝缘膜,所述绝缘膜外部设置有拉扯带,两支所述支架的开口部设置有连接杆。本实用新型的有益效果是:本实用新型解决了绝缘膜破损的问题,当出现绝缘膜损坏的情况时,只需要拉动拉扯带就可以撕下绝缘膜再进行修复的工作。
申请公布号 CN205484437U 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201620239079.8 申请日期 2016.03.24
申请人 铜陵晶越电子有限公司 发明人 张帮岭
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 铜陵市天成专利事务所 34105 代理人 程霏
主权项 一种可更换绝缘膜的芯片测试架,其特征在于,所述测试架包括两支呈角度的支架(1),所述支架(1)结合处的上端部设置有夹持器,所述夹持器包括夹持底座(2),所述夹持底座(2)上端部设置有对称排列的若干检测头(3),所述检测头(3)外层设置有绝缘膜(4),所述绝缘膜(4)外部设置有拉扯带(5),两支所述支架(1)的开口部设置有连接杆(6)。
地址 244000 安徽省铜陵市经济技术开发区翠湖2路1258号