发明名称 一种检测线偏振入射光偏振角的方法
摘要 本发明涉及一种检测线偏振入射光偏振角的方法,利用导模共振效应滤波器的反射光谱特性检测线偏振入射光源的偏振角,可以通过制作不同结构参数的滤波器进行替换来满足不同的入射波长,从而可以实现对各个波长的入射线偏振光的偏振角检测。本发明不需要检偏器和四分之一波片,所用滤波器结构简单,制作工艺也较为容易,可以通过滤波器不同结构参数的调整得到的光谱来满足不同的入射波长,从而实现对各个波长的入射线偏振光的偏振角检测。
申请公布号 CN104634453B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201510057935.8 申请日期 2015.02.03
申请人 上海理工大学 发明人 王琦;李业;张大伟;王建宇;黄甜;黄元申
分类号 G01J4/00(2006.01)I 主分类号 G01J4/00(2006.01)I
代理机构 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人 吴宝根
主权项 一种检测线偏振入射光偏振角的方法,其特征在于,具体包括如下步骤:1)根据待测线偏振入射光波长范围设计导模共振滤波器,使得导模共振滤波器在待测线偏振入射光的波长范围内有两个共振峰位置; 2)使用光纤及准直器把待测线偏振入射光调整为平行出射光;3)将制作完成的导模共振滤波器放入光路中,将步骤2)调整后出射光垂直入射步骤1)的导模共振滤波器的上层,在导模共振滤波器下方使用耦合器及光谱分析仪接收透射光,光谱分析仪通过数据处理得到待测线偏振入射光波长范围内完整的反射谱,从而得出两个共振峰位置的波长及其对应的反射率;4)将步骤1)导模共振滤波器参数输入GSolver软件,设定不同的偏振角,计算不同偏振角所对应的两处峰值波长处的反射率,拟合出偏振角与反射率之间的函数关系曲线图,将步骤3)得到的两处峰值位置处的反射率对应到拟合的曲线图中,读取到的横坐标即是该待测线偏振入射光的偏振角。
地址 200093 上海市杨浦区军工路516号