发明名称 一种频域快速扫描测量的装置
摘要 本发明公开了一种频域快速扫描测量的装置,利用数字中频处理方法,通过锁相扫频本振与数字快扫相结合方式,提高了频域测量的精准度。在实际配置中,通过控制器发送扫描控制命令,实现了射频前端模块与数字中频处理模块的同步,同时在数字中频处理模块中添加了数字快扫部件,使用数字快扫部件对采样信号进行快速小步进扫描变频处理,再经分析带宽滤波器及检波模块提取幅相信息,这样利用数字技术的快速优点将大部分的扫描处理在数字中频处理模块中进行,这样大大节约了测量时间。
申请公布号 CN103941092B 申请公布日期 2016.08.17
申请号 CN201410135616.X 申请日期 2014.04.04
申请人 电子科技大学 发明人 王志刚;张波;朱桂兵;刘文彬;罗光坤
分类号 G01R23/165(2006.01)I 主分类号 G01R23/165(2006.01)I
代理机构 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人 温利平
主权项 一种频域快速扫描测量的装置,其特征在于包括:一射频前端模块、一中频采样器、一控制器和一数字中频处理模块;所述的射频前端模块包括:一射频通道、一锁相扫频本振模块、一变频模块和一射频前端滤波模块;所述的数字中频处理模块包括:一数字快扫部件、一分析带宽滤波器及检波模块;射频信号RF经射频通道输入到变频模块,与锁相扫频本振模块产生的本振信号经混频处理后输入到射频前端滤波模块,射频前端滤波模块再进行滤波处理得到中频信号;射频前端模块输出的中频信号经过中频采样器采样处理后得到中频数据,再将中频数据输入到数字中频处理模块,数字中频处理模块中的数字快扫部件在扫描宽度内按照扫频步进调谐输出数字正交信号,并与中频采样器输出的采样信号进行快扫式下变频处理,得到基带信号;装置启动时,控制器向锁相扫频本振模块发送第一个扫频点命令,锁相扫频本振模块在接收到控制器发送的该扫频点命令后生成第一个频点的本振信号;在第一个扫频点命令发送后,延迟时间T1,T1为锁相扫频本振模块产生一个本振信号与射频输入信号进行混频处理所需要的稳定时间,控制器再向数字快扫部件发送第一个快扫点命令,数字快扫部件接收到控制器发送的该命令后生成第一个快扫点的数字正交信号;在第一个快扫点命令发送后,延迟时间T2,T2为数字快扫部件产生的数字正交信号与中频采样器输出的采样信号进行快扫式下变频处理所需要的稳定时间,控制器向分析带宽滤波器及检波模块发送数字滤波和检波命令,当分析带宽滤波器及检波模块收到该数字滤波和检波命令后,对基带信号进行数字滤波和检波并输出该点的幅相数据;在第一个快扫点的数字滤波和检波完成后,控制器继续向数字快扫部件发送下一个快扫点命令,并依次执行与第一个快扫点的相同处理,直到最后一个快扫点,完成射频前端模块的第一个扫频点扫描;控制器继续向射频前端发送下一个扫频点命令,并依次执行与第一个扫频点的相同处理,直到最后一个扫频点,完成一次频域扫描进程。
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