发明名称 |
电子元件测试装置 |
摘要 |
本实用新型提供电子元件测试装置,它包括有转盘,转盘底部设有带动转盘旋转的动力机构,转盘盘缘处均布有若干检测座,转盘顶部设有检测架,检测架上设有固定座,固定座上设有上下滑动的滑板,滑板顶部与检测架上的升降杆相连接,滑板底部安装有检测头,检测头位于检测座上方;转盘一侧设有与检测座相配合的送料机构,转盘底部设有与检测头相配合的下顶紧机构。采用本方案后的结构简单、操作方便、无需使用气缸带动,使机械手的稳定性得以大大提高,减少了冲击性,使测试数据更精准。 |
申请公布号 |
CN205484609U |
申请公布日期 |
2016.08.17 |
申请号 |
CN201620219184.5 |
申请日期 |
2016.03.22 |
申请人 |
湖南省福晶电子有限公司 |
发明人 |
肖旭辉 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
湖南省娄底市兴娄专利事务所 43106 |
代理人 |
朱成实 |
主权项 |
电子元件测试装置,其特征在于:它包括有转盘(1),转盘(1)底部设有带动转盘(1)旋转的动力机构(2),转盘(1)盘缘处均布有若干检测座(3),转盘(1)顶部设有检测架(4),检测架(4)上设有固定座(5),固定座(5)上设有上下滑动的滑板(6),滑板(6)顶部与检测架(4)上的升降杆(7)相连接,滑板(6)底部安装有检测头(8),检测头(8)位于检测座(3)上方;转盘(1)一侧设有与检测座(3)相配合的送料机构(9),转盘(1)底部设有与检测头(8)相配合的下顶紧机构(10)。 |
地址 |
417625 湖南省娄底市新化县桑梓镇桑梓村福鑫源工业园 |