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测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法，其特征在于：其步骤依次是：首先，制备金相样品并进行金相观察；然后，将金相照片转换成灰度级，调整第二相和基体之间衬度差，使得第二相的轮廓线明显，衬度分明；通过金相分析得到视场内每个第二相的几何中心坐标(X<sub>i</sub>，Y<sub>i</sub>)，并将每一个坐标值保存到文本文件中；最后，将上述文本文件复制到要求文件中,进行第二相均匀性测定：测定视场内所有第二相颗粒在二维平面内的平均最近邻、次最近邻的间距<img file="FDA0000958335280000014.GIF" wi="27" he="58" />和对应标准偏差σ<sub>t</sub>，随试样位置不同，选择对应的视场，测定相应的平均最近邻、次最近邻的间距<img file="FDA0000958335280000015.GIF" wi="26" he="58" />和对应标准偏差σ<sub>t</sub>，并且将平均最近邻、次最近邻的间距<img file="FDA0000958335280000016.GIF" wi="27" he="57" />和对应标准偏差σ<sub>t</sub>随试样位置变化绘成曲线图，通过曲线图直观反映第二相均匀性情况及随试样位置的变化；其中标准偏差的数值即反映了第二相在基体中局部分布的均匀性，平均间距随视场选取位置的变化反映了第二相在整个材料中分布的均匀性；所述测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法中，用到的数学方法如下：第二相质点间距t的公式：<img file="FDA0000958335280000011.GIF" wi="574" he="95" />平均最近邻第二相质点间距<img file="FDA0000958335280000012.GIF" wi="22" he="56" />的公式：<img file="FDA0000958335280000013.GIF" wi="566" he="118" />最近邻第二相质点间距的标准偏差σ<sub>t</sub>的公式：<img file="FDA0000958335280000021.GIF" wi="397" he="150" />其中(x<sub>1</sub>,y<sub>1</sub>)和(x<sub>2</sub>,y<sub>2</sub>)分别是第二相质点1和2的位置坐标；t<sub>1</sub>:视场内和第二相质点1最近邻的质点间距，t<sub>2</sub><sub>、</sub>t<sub>3</sub><sub>、</sub>…t<sub>N</sub>如t<sub>1</sub>；N:一共有N个第二相质点。 |
