具有边缘导向的自动化测试系统

摘要

本发明提供了一种自动化测试系统，半导体受测装置(DUT)可由所述自动化测试系统测试，所述自动化测试系统处理对每个测试器周期的边缘数量予以指定的测试程序，所述边缘数量可大于测试器能够生成的边缘的数量。所述测试系统可包括电路，所述电路基于数据来减少测试程序的每个周期中的边缘数量，所述数据指定所述测试器在该周期和/或前一个周期中的操作。此类减少通过减少每个通道的时序游标总数来简化实施边缘发生器所需的电路。但仍保持了对所述测试系统编程的灵活性。

主权项

一种适用于自动测试系统中的时序电路，所述时序电路包括：包括至少一个时序控制输入的边缘发生器；适于为m个边缘输出时间规格集合的时序发生器；输出耦合到所述边缘发生器的所述至少一个时序控制输入的控制信号的n个时序游标；以及将延迟值耦合到所述时序游标的电路，所述延迟值基于所述时序发生器输出的所述集合中所述时间规格中的所选时间规格，其中n<m。